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              邊界掃描測試技術在物聯網和工業4.0大環境下的發展機遇
              來源: fbe-china.com作者: Kenny Fu時間:2019-11-18 09:50:02點擊:8321

              當今,云計算、大數據、人工智能等新技術的應用催生出了更多的業務形態,市場需求也因此發生了變化。隨著傳統企業以及現代化企業數字化轉型進程的推進,用戶對于云服務的需求也在逐年遞增,加速了云服務器的采購,也推動了云服務商在數據中心方面的建設和投資。最近研究機構SynergyResearch發現,2017年實際上是全球新的超大規模數據中心的一個爆發年,全球范圍內的超大規模數據中心已經超過390個,比一年前的300個增加了一大批。中國的騰訊和百度今年也建立了超大規模的數據中心。按照目前的速度,到2019年底全球超大規模數據中心的數量有望突破500個。美國市場規模最大,中國增長潛力最強且增速遠高于國際水平。數據中心已經成為互聯網業務發展的重要支撐。在云計算、大數據和人工智能時代,一切運行的基礎都源于計算,其核心設備就是服務器,相當于人的大腦。由此服務器市場得到了良好的發展,增長勢頭強勁。

              服務器市場中,持續增加的產量要求、縮短產品上市時間要求、更嚴格的質量要求,在面對產品復雜度日益增加的情況下,面臨著巨大的挑戰。芯片技術在小型化、速度和復雜性方面的發展也在幾何級別上升。多核芯片, 新型復雜封裝和3DICs使得設計、測試、驗證和調試過程更加復雜。傳統的測試方式,如功能測試和ICT(in-circuittest)正在失去效力。歷史上,測試電子系統的最直接的方法是功能測試,然而其始終存在著測試效率低,無法精準定位工藝缺陷的問題。而ICT測試在物理訪問丟失、細間距部件、主板密度增大和高速信號等因素下,成本正在顯著增加,而測試有效性在逐漸降低。一種新的測試技術正在廣泛應用在目前的服務器生產測試中,聯合測試行為組織(JointTestActionGroup)簡稱JTAG定義這種新的測試方法即邊界掃描測試。邊界掃描測試是克服傳統測試限制的巧妙方法,已被公認為測試的必要環節和未來趨勢。

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              邊界掃描測試是一種基于軟件的測試解決方案,硬件干預非常少。其優點包括 :一個是方便芯片的故障定位,迅速準確地測試兩個芯片管腳的連接是否可靠,提高測試檢驗效率;另一個是,具有 JTAG接口的芯片,內置一些預先定義好的功能模式,通過邊界掃描通道來使芯片處于某個特定的功能模式,以提高系統控制的靈活性和方便系統設計?,F在,所有復雜的 IC 芯片幾乎都具有JTAG控制接口,JTAG控制邏輯簡單方便,易于實現。

              于IEEE1149.1/1149.5/6的標準,在JTAG原理基礎上,英業達公司研發了一整套針對研發/生產/測試的邊界 掃描測邊界掃描測試技術在物聯網和工業4.0大環境下的發展機遇劉冰英業達公司www.dl698.com | 2018年3-4月 44asia Special Report特別報道試工具(Boundary Scan Tools)。支持電路板多種I/O 插槽的測試(DIMM/PCIE/SAS/SATA/USB/RJ45/VGA/HDMI/DP/M.2/SD),覆蓋CPUDIMM,CPUCPU,DIMMDIMM,CPUPCIE slot, PCHPCIE/USB/SATA slot等,支持1CPU,2CPU,4CPU多架構服務器主板測試,具備兼容IEEE1149.1/1149.6的I/O測試功能,涵蓋GND和Power信號檢測。引腳級的錯誤定位和報告,并直接指明錯誤原因。在服務器生產測試中得到了非常廣泛的應用,為主流服務器做測試把關。

              其應用方式為單獨一個站位,位于ICT和FCT測試之間。旨在對ICT進行必要補充,以其高覆蓋率降低ICT治具成本,提升測試穩定性和可靠性。大幅縮減FCT測試時間,降低測試成本。

              邊界掃描的應用價值正在逐漸提升,體現在幾個方面:

              1、精準的錯誤定位和報告:引腳級錯誤定位,可直接查明錯誤原因(open or short)

              2、超高的測試覆蓋率:以DIMMDDR4為例,在每個slot的288個pin上,可覆蓋287個pin的開短路,IO、Power、GND等信號均可測試。在PCIEslot測試方面覆蓋率也可大于95%,SATA、USB等更是達到100%的測試覆蓋。

              3、超短的測試時間:從主板上電到整個主板測試完成,僅需要1-2分鐘,大大的節省測試時間和成本,轉化為實實在在的商業價值。

              4、更低的成本:在邊界掃描測試成為標準的測試站位之后,后站Functional Test的測試成本大大降低,FPY有了明顯提升。前站ICT可參考邊界掃描所覆蓋的范圍后,去掉已經覆蓋的部分,減少探針,節省成本并增加測試可靠性和穩定性。

              5、快速的設計、開發和實施:邊界掃描測試儀身材小巧,僅需市電,不僅適用于研發人員在辦公室快速驗證原型機、小批量試產時快速檢測、大規模生產時單獨作為測試站,還能幫助維修人員精確定位故障IC至引腳級別提高維修效率。且邊界掃描測試程序開發簡單,無需掌握ICT知識。

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              邊界掃描測試技術,憑借自身特點,已經成為當今最主流測試方法之一。在電路板接入減少的情況下,測試解決方案已經從硬件轉向基于軟件的策略,邊界掃描所提供的測試范圍將會遠遠高于其他所有的電氣技術,被譽為測試的未來?,F今,邊界掃描技術已應用在計算機和服務器電路板測試、網絡通信電路板測試、航空航天和國防、汽車電子測試、工業電子測試、醫療器械測試等領域,持續發揮著價值。

              技術發展正在改變我們的生活,我們的出行方式、購物方式、以及我們與周圍世界的溝通方式。同時也改變著商業模式的方方面面。整個市場可以因為一項創新而消失。今天,只有加速創新,并提升創新技術的能力才能繼續保持競爭優勢。

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